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淺析激光粒度儀各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)

更新時(shí)間:2022-06-17

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   激光粒度儀是基于光衍射現(xiàn)象設(shè)計(jì)的,當(dāng)光通過(guò)顆粒時(shí)產(chǎn)生衍射現(xiàn)象(其本質(zhì)是電磁波和物質(zhì)的相互作用)。衍射光的角度與顆粒的大小成反比。
  基本概念
  1、顆粒:具有一定尺寸和形狀的微小物體,是組成粉體的基本單元。它宏觀很小,但微觀卻包含大量的分子和原子。
  2、粒度:顆粒的大??;
  3、粒度分布:用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比。
  4、粒度分布的表示方法:表格法(區(qū)間分布和累積分布)、圖形法、函數(shù)法,常見(jiàn)的有R-R分布,正態(tài)分布等。
  5、粒徑:顆粒的直徑,一般以微米為單位。
  6、等效粒徑:指當(dāng)一個(gè)顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時(shí),我們就用該球形顆粒的直徑來(lái)代表這個(gè)實(shí)際顆粒的直徑。
  激光粒度儀各種方法的優(yōu)缺點(diǎn):
  1、篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn):不能用于40μm以細(xì)的樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
  2、顯微鏡法:優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。缺點(diǎn):速度慢、代表性差,無(wú)法測(cè)超細(xì)顆粒。
  3、沉降法(包括重力沉降和離心沉降):優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)。
  4、電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,可測(cè)顆粒總數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn):測(cè)試范圍較小,小孔容易被顆粒堵塞,介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。
  5、電鏡法:優(yōu)點(diǎn):適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點(diǎn):樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
  6、超聲波法:優(yōu)點(diǎn):可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。缺點(diǎn):分辨率較低。